SIKORA公司研发出一套新型系统，采用X射线及光学技术相结合的方式，可对聚合物材料进行100%的检测，检测到的杂质将被自动剔除。该检测原理适用于TPE及其它不同材料，在一般流动速率下，可检测小到50µm的杂质或异物，使金属、有机污染物和异物的检测和分离得以实现。此外，该系统还可检测添加剂的分布，尤其是对于复合材料生产过程，可避免后续的添加剂结块及混合不均匀情况的产生。
通过采用X射线检测技术，可对透明及不透明的塑料颗粒进行杂质检测。其基本原理是X射线对原材料与杂质（或异物），有不同的衰减率。X射线的衰减率(µ)主要取决于元素的原子量，并与原子序数的三次方成比例(µ～Z3)。塑料制品主要由碳构成(Z=6)，因此衰减率很低。铁杂质的衰减率相对较强(Z=26)，可被清晰地检测到并剔除。二氧化钛团块与周围材料的散布形成显著的反差，这是因为在二氧化钛中钛(Z=22)与塑料的吸收率有很大的差别。最后，通过特殊的处理和数学运算模块，杂质或异物被识别并最终被剔除。该系统通过采用新颖的光学设计技术，为材料检测提供了特殊的散射光，通过光学检测单元可检测到极小的杂质。为在工业生产速度下对材料流进行精确的检测，该系统还采用了先进的成像技术，通过X射线和光学技术检测到的杂质，经由性能强大的图像处理软件辨识，并最终被分离。为避免外部污染物，该系统在扫描机分离系统中采用了密闭式的震动坡道。该设计确保了环境空气中的污染物不会进入到检测区域中去，甚至可在系统内部导入正压，从而避免外部污染物进入检测系统内部。
